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XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器 計量儀器

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XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器 計量儀器

 

在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10nm范圍內(nèi)，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。

 

技術參數(shù)

在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10 nm范圍內(nèi)，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10nm范圍內(nèi)，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。

 

技術參數(shù)

在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10 nm范圍內(nèi)，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。

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